第48回 ネプコン ジャパン に出展します

第48回 インターネプコン ジャパン

東京エレクトロンデバイスは、2019年1月16日(水)〜1月18日(金) 東京ビッグサイトにて開催される「第48回 ネプコン ジャパン」 (小間番号:E8-38)へ出展します。

「データ分析の自動化」が切り開く
現場課題の新しい解決術

本ブースでは、生産現場の重要課題である「品質改善」と「予知保全」の2つの課題にテーマを絞り、独自のデータ分析自動化技術と画像処理技術で実現する実用的なソリューションをデモンストレーションを交えてご紹介します。皆様のご来場をお待ちしております。

こちらでは、ネプコン ジャパンの配布資料をダウンロードいただけます。以下のお申込みフォームよりご希望の資料をお選びください。

展示会概要

会期 2019年1月16日(水)〜1月18日(金) 10:00〜18:00(18日のみ17:00終了)
場所 東京ビッグサイト
【最寄駅】
りんかい線(JR埼京線直通) 「国際展示場駅」下車 徒歩約7分
ゆりかもめ 「国際展示場正門」駅下車 徒歩約3分  Google Mapで見る
参加費 無料(招待券もしくは事前登録)
https://www.nepcon.jp/ja-jp.html
主催者 リード エグジビション ジャパン株式会社

小間位置

●東ホール(小間番号:E8-38)

展示コーナー詳細

カテゴリ 展示概要
予知保全

データ分析業務を効率化したい

異常判別プログラム自動生成マシン CX-M

CX-Mは、従来データサイエンティストが行なっていた分析作業を自動化することで、分析時間、コストを大幅に削減し予知保全システムの実現課題を解決します。分析に必要なデータの前処理(クレンジング)、特徴抽出、機械学習によるモデルプログラムの作成までを全て自動で行います。これにより、予知保全システムを素早く実現できます。

設備状態・故障予兆を監視したい

様々な生産現場で設備・品質状態を即時に診断 CX-M Edge

装置からのセンシングデータやPLCで得られたデータを「CX-M Edge」に送ることで、CX-Mで作成した判別モデルが即時に状態を診断します。診断結果はカスタマイズすることで様々な利用方法、通知方法が可能です。今まで監視が行えなかった装置でも、装置状態を反映したデータ(センサー・PLC)を取得することで、装置の状態監視をエッジコンピューティングで実現します。

品質改善

塗布工程の品質検査を効率化したい

塗布検査装置 FV-DispenseChecker3D

ディスペンサーによる液剤塗布と同時に塗布剤の幅、高さ、途切れをリアルタイムに検査を行います。複数カメラを使った同時撮影により、ディスペンサーがどの方向に塗布を行っても検査が可能です。専用のパルスジェネレータにより塗布開始信号に同期して撮像信号が連続的に自動生成されるため、安定した連続撮影ができ、高速高精度を実現しています。

AIで外観検査精度を改善したい

外観検査判定基準の自動生成と診断【参考出展】

自動で画像の特徴情報を抽出し、最適な判定基準を見つけプログラム化するため、 専門知識がなくても画像データさえあれば自動で判定プログラムを作成することが可能です。判定プログラムはシステム開発なく、すぐに検査ラインで利用することができ、各検査ライン毎に、検査精度を上げるためのプログラム改善も簡単にできます。

画像検査をAIで解決したい

AIをイージートライアル AI評価ソフト

これまでの手法と異なり、学習を重ねることにより判定精度が向上します。良い結果を出すためには多量の画像とアノテーションデータを用意することが重要となります。

微細表面状態を全数検査化したい

マクロ光学検査

マクロ検査は検査対象物に専用照明を照射して、その反射光(輝度)から表面形状の微小な変化を捉える技術です。ミクロン・サブミクロンレベルの欠陥検出と短時間検査を両立します。マクロ光学センサーと独自の画像処理ソフトウェアを一体化する事により、今までにない高感度、高精度、高速処理を実現、お客様の品質・生産性向上に貢献します。

デモンストレーション一覧

小さい部品を簡単に正確に数えたい

微小・軽量部品 数量カウント補助システム 「めばかり君」

入出庫に伴う計数作業で、形状や重さの問題で“はかり”による計数ができない微小・軽量部品を画像処理技術によりサポートします。
作業者はモニタ画面の指示に従い部品をばらすだけで簡単に正確な計数作業が行え、作業ログが残るので振り返りも可能です。
作業量の短縮だけでなく、数量間違いの防止や計数作業の教育も不要となります。

本イベントに関するお問い合わせ先

東京エレクトロン デバイス株式会社

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